UJAWNIENIE STRUKTURY CIENKICH WARSTW I POWŁOK
W BADANIACH METALOGRAFICZNYCH ZA POMOCĄ KULOTESTERA

REVEAL OF THIN LAYERS AND COATINGS STRUCTURES IN METALLOGRAPHICAL INVESTIGATIONS BY USING KULOTESTER

STRESZCZENIE
W klasycznych badaniach metalograficznych obserwacje struktur powłok i warstw można prowadzić trzema
metodami metalograficznymi: na szlifie prostopadłym, na szlifie skośnym oraz na szlifie kulistym. W powszechnie
stosowanej analizie metalograficznej grubość warstw ocenia się na podstawie obserwacji i pomiaru
ujawnionej warstwy na szlifie prostopadłym. Identyfikacja struktury cienkich warstw o grubościach od 0,1 µm
do 5 µm za pomocą mikroskopu optycznego jest obarczona dużym błędem wynikającym z rozdzielczości mikroskopu
oraz techniki wykonania szlifu prostopadłego. Znacznie dokładniejsza jest metoda szlifu ukośnego, powiększająca
fizycznie obraz powłoki lub warstwy. Metoda ta jest bardzo pracochłonna i wymagająca precyzyjnych
oprawek metalograficznych do próbek. Łatwiejszą, dającą większe możliwości pomiaru grubości a zwłaszcza analizy struktury cienkich warstw jest metoda szlifu kulistego.

Słowa kluczowe
Kulotester, badania metalograficzne, warstwy i powłoki, szlif sferyczny.

SUMMARY
In typical metalography investigations there are three methods used: metalographical cross-section, skew
metalographic section and spherical metalographic section. Generally the layer thickness is evaluated in metalography
analysis by observation and measure of the layer reveal on metalographical cross-section. A structure
characterization with optical microscope of thin layers within the range of thickness from 0,1 µm to 5 µm could
be very uncertain. The errors come from microscope resolution and quality of preparation of microsection. Much
more precise technique is a method of skew metalography section as we can widely see the investigated area
on the sample. But, the skew metalography section method is more labour-consuming, and there is necessity to
use special metalography mounting. The easiest method, which allows to measure a thickness and analyze
structure of thin layers is spherical metalography method.

Keywords
Kalotest, metallographic investigation, layers and coatings, spherical section.

¹ Instytut Mechaniki Precyzyjnej, Warszawa